パネルメモリーを使用することで、最大3通りまで試験条件を保存できます。また、保存した試験内容はパネル操作やSIGNAL I/Oコネクタの信号により呼び出して試験が可能です。保存可能な設定項目は試験電圧、出力周波数、上限基準判定値、下限基準判定値、試験時間、電圧上昇時間、電圧降下時間、およびスタート電圧の8項目です。