絶縁抵抗試験において容量分を含む被試験物に試験電圧を印加すると、充電が終わるまでの間、充電電流により絶縁抵抗が低く測定されます。下限判定時に充電電流の影響を除くために、試験電圧の印加から下限判定を開始するまで待ち時間を設けています。判定待ち時間を0.3 s ~ 10 s(分解能0.1 s)の範囲で設定します。
絶縁抵抗試験において容量分を含む被試験物に試験電圧を印加すると、充電が終わるまでの間、充電電流により絶縁抵抗が低く測定されます。下限判定時に充電電流の影響を除くために、試験電圧の印加から下限判定を開始するまで待ち時間を設けています。判定待ち時間を0.3 s ~ 10 s(分解能0.1 s)の範囲で設定します。