Solutions by  Power Device

省エネ需要の高まりやEV・再エネの普及により、SiCやGaNなど次世代パワー半導体の評価ニーズが多様化・高度化しています。KIKUSUIは、高電圧・大電流試験から温度特性評価まで、高精度な評価技術と豊富なノウハウで、パワーデバイス開発を支えるソリューションを提供します。

Solution

パワー半導体テストソリューション

パワー半導体テストソリューション

パワー半導体(SiC・GaN)の評価ニーズに対応するテストソリューションを紹介。VMCBによる多チャンネル制御、CC優先モードを活用した信頼性試験、耐電圧・絶縁評価、SEMI F47規格試験まで対応し、電源・電子負荷・試験器を組み合わせた効率的な評価環境構築のポイントを解説します。

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耐電圧試験/部分放電試験

耐電圧試験/部分放電試験

耐電圧試験および部分放電試験の評価手法と活用ポイントを解説。高電圧印加による絶縁耐力確認や漏れ電流測定に加え、絶縁内部のボイドによる部分放電検出にも対応し、潜在不良や製造ばらつきの可視化を実現。安全性向上や長期信頼性評価に役立つ試験環境構築のポイントを紹介します。

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Industries & Solutions

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